關于 高溫四探針測量系統 結果1
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高溫四探針測量|方塊電阻測量|表面電阻率測量|導體電阻率測量可以測量硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃（ITO）和其它導電薄膜的方塊電阻
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