該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計的，專用于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器。

HT-300D方塊電阻測試儀輸出采用高精度芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表

機采用世界領(lǐng)先的先進電路設(shè)計，所測數(shù)值更精、更快、更準(zhǔn) 2．屏幕采用液晶顯示 3．匹配電腦接口及軟件，讓操作簡便明了化

四探針法粉體粉末電阻率測試儀 wi126416

粉末電阻率測試儀 本儀器采用四探針測量法適用于碳素廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。液晶顯示電阻率、方阻、電導(dǎo)率等相關(guān)數(shù)據(jù)

便攜式外形結(jié)構(gòu)更加適用于車間生產(chǎn)、品管抽檢，外出攜帶測量等要求快速便捷測量的場所；也適用于中小型半導(dǎo)體材料生產(chǎn)企業(yè).具有高性價比優(yōu)勢.

測量塑料薄膜、金屬鍍層方塊電阻（每平方厘米電阻量值）的儀器。均勻金屬薄層的厚度可用單位面積所體現(xiàn)的電阻表征，由于方阻與鍍層厚度成反比，也就可以由方阻計算出鍍層厚度。

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儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、測量范圍廣、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點

SURAGUS 方阻測試儀

四探針電阻率測試儀是用來測量硅晶塊、晶片、碎片料、米粒料、頭尾料、堝底料、邊皮料等材料方塊電阻的小型儀器

XH-XH100B回路電阻測量儀是根據(jù)中華人民共和國電力執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)DL/T845.4-2004，采用高頻開關(guān)電源技術(shù)和數(shù)字電路技術(shù)相結(jié)合設(shè)計而成。回路電阻測量儀適用于開關(guān)控制設(shè)備回路電阻的測量。

RCC鐘,投影鐘,四方鐘,溫濕度計,心率計,脂肪儀,酒精測試儀